半導体パラメーターアナライザー

• 中古半導体パラメータアナライザAgilent 4156 C

  Keysight / Agilent 4156 Cプレシジョンセミコンダクターパラメーターアナライザーは、高度なデバイス特性評価のための非常に正確な実験室ベンチトップパラメーターアナライザーを提供します。

• 使用パルスジェネレータ拡張ユニットアジレント41501B

  アジレント/HP 41501B SMUおよび脈拍発生器拡張装置は4155A、4155B、4155C、4156A、4156Bおよび4156Cの測定機能を高めるために使用される。

• 中古のHPSMU Agilent B 1510 A

  Keysight B 1510 A（Agilent）などのSource / Measure Unit（SMU）は、Agilent / Keysight B 1500 A半導体デバイスパラメータアナライザの主要な測定モジュールです。

• 使用された波形発生器ユニットモジュールAgilent B 1530 A

  Keysight B 1530 A波形発生器/高速測定ユニットモジュール（WGFMU）は、超高速IV、パルスIV、過渡IV測定に最適です

• 高解像度ソースモニターユニットAgilent B 1517 Aを使用

  製品の概要
  高解像度ソースモニターユニット

• 中古中電流源モニターユニットAgilent B 1514 A

  MCSMU

• 中古中電源モニターユニットAgilent B 1511 A

  中電源モニターユニット

• 使用パルス発生器ユニットアジレントB1525A

  アジレント B1525A パルス発生装置

• 使用された高速測定メインフレームアジレントE5260A

  Keysight E5260A 8スロット高速測定メインフレームは、半導体、RFIC、光部品のテスト用に高速パラメトリックテストソリューションを提供することで、テストコストを削減します。

• 使用された高速ソースモニターユニットアジレントE5262A

  Keysight E5262Aソースモニターユニットは、半導体、RFIC、光部品のテストニーズに対応する高速パラメトリックテストソリューションを提供します。

• 使用済みパラメトリック測定システム メインフレームアジレント E5270B

  アジレントE5270B 8スロットパラメトリック測定メインフレームは、完全にユーザー設定可能です。最大 8 つのシングルスロット モジュール(E5281B MPSMU など)を取り付けることができます。

• 中古のHPSMU Agilent E 5280 B

  Keysight E 5280 Bは、E 5270 Bパラメトリック測定システムメインフレーム、8スロットと連動する高出力電源/測定ユニット（HPSMU）です。