製品の概要

Keysight B 1530 A波形発生器/高速測定ユニットモジュール（WGFMU）は、R 0010010 ampのますます一般的な要件となっている超高速IV、パルスIV、過渡IV測定に最適です。 ;次世代の半導体、デバイス、材料のD。 Keysight B 1530 A Keyform B 1500 A Semiconductor Parameter Analyzer、 0010010 nbspで使用される波形発生器/高速測定ユニット（WGFMU）。これらの時間依存測定に最適な独自の測定モジュールです。パルス発生器とオシロスコープを組み合わせて行うのが一般的ですが、正確な測定には残留抵抗の電圧降下による誤差である負荷線効果が問題でした。 B 1530 A WGFMUは、任意波形生成と同時高速測定機能を統合し、Keysight 0010010 ＃39の独自の動的SMUテクノロジーにより、パルスジェネレータよりも正確で高感度な測定が可能負荷線効果のないベースのソリューション。これは、最先端の超高速IV、パルスIV、および超高速NBTIやRTN測定などの過渡IVアプリケーションを実行するための非常に強力で有用なソリューションです。

超高速IV、パルスIV、およびトランジェントIV測定の感度は、もう1つの課題です。流れる電流は、パルスベースとパルスピークの間で異なる順序になる可能性があり、一部のデバイスは、適用された波形によって大幅なインピーダンス変化を示します。 Keysight B 1530 Aには、任意のポイントで測定範囲を指定する機能があり、その範囲は任意波形出力で動的に変更されます。したがって、Keysight B 1530 Aで正確な測定を行うために、最適な範囲と分解能を利用できます。

B 1530 A WGFMUの高度な測定機能により、従来の測定機器では困難であった測定が可能になります。 B 1530 A WGFMUは、高速測定と高感度により、µsオーダー未満の特性評価を可能にします。たとえば、高度な半導体の信頼性にとって重要な課題である超高速NBTI / PBTIやRTN測定などの最先端のアプリケーションに使用できます。 Keysight B 1500 Aは、これらの難しいアプリケーションをすばやく起動するための、すぐに使用できるアプリケーションソフトウェアを提供します。

Keysight B 1530 A WGFMUの主な仕様と機能は次のとおりです。

ロードライン効果のない唯一の真のパルス/過渡測定ソリューション

●任意波形生成と高速IV測定機能を統合

●ロードライン効果がなく、Keysight独自のダイナミックSMUテクノロジーによる正確なパルスIV測定

●NBTI / PBTI、RTN（ランダムテレグラフシグナルノイズ）などの超高速IV（電流-電圧）、パルスIV、過渡IV測定のソリューション

測定機能

● 10 nsのプログラム可能な分解能（10 Vピークツーピーク出力）を備えたDC出力および任意波形生成

●高速電圧/電流測定（200 MSa / s、 5 nsサンプリングレート）

●任意波形出力でダイナミックレンジング機能により広い電流範囲を利用可能

●デュアルチャンネル出力

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