絶縁耐圧試験、高電位試験、または耐電圧試験は、コンポーネントまたは製品に対して行われる電気的試験で、絶縁の有効性を判断します。テストは、部品または通電された部品の相互に絶縁された部分とアースの間で行うことができます。テストは、デバイスを評価する手段です。 0010010 ＃39;定格電気的条件で安全に動作する能力。テスト中のデバイスを流れる電流が、必要なテスト電位で指定された制限よりも小さい場合そして、持続時間は、デバイスが絶縁耐圧要件を満たしています。絶縁耐力テストは、新しい機器の工場テストとして行うことも、定期保守テストとしてすでに稼働中の装置で行うこともできます。
絶縁テストセット;このパターンでは、手動の発電機が高電圧を供給し、スケールはメガオームで直接校正されます。
耐電圧試験は、高電圧源と電圧および電流計で行われます。 0010010 quot; hipot tester 0010010 quotと呼ばれる単一の機器。このテストを実行するためによく使用されます。デバイスに必要な電圧を印加し、リーク電流を監視します。電流が障害インジケータをトリップさせる可能性があります。テスターは出力過負荷保護を備えています。試験電圧は、共振周波数（30 to 300 Hzによって負荷によって決定される）またはVLF（0。01 Hz〜 0。1 Hz）、便利な場合。最大電圧は、特定の製品のテスト規格に記載されています。適用率はまた、試験対象の固有の容量効果から生じる漏れ電流を管理するために調整されてもよい。テストの期間は、最大 60 秒以上になる場合があります。印加電圧、印加速度、および試験時間は、機器の仕様要件によって異なります。家庭用電化製品、軍事用電気機器、高電圧ケーブル、開閉装置、その他の機器には、さまざまな試験規格が適用されます。
典型的なhipot機器の漏れ電流トリップ制限設定の範囲は0。1 から 20 mA [3]で、テストオブジェクトの特性と電圧印加率に従ってユーザーが設定します。目的は、電圧の印加中にテスターが誤ってトリップしない電流設定を選択すると同時に、不注意な放電や故障が発生した場合に、テスト対象のデバイスへの損傷の可能性を最小限に抑える値を選択することです。
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