中古半導体パラメータアナライザーケースレー4200-SCS

中古半導体パラメータアナライザーケースレー4200-SCS

ケースレー4200-SCS半導体特性評価システムは、ラボグレードのDCおよびパルスデバイスの特性評価、リアルタイムのプロット、分析を高精度およびサブフェムトからアンペアの分解能で実行します。

製品説明

製品の概要

ケースレー4200-SCS

ケースレー4200-SCS半導体特性評価システムは、ラボグレードのDCおよびパルスデバイスの特性評価、リアルタイムのプロット、分析を高精度およびサブフェムトからアンペアの分解能で実行します。ケースレー4200-SCSは、Windowsオペレーティングシステムと大容量記憶装置を備えた完全な組み込みPCを含む、完全に統合された特性評価システムで利用可能な最も高度な機能を提供します。自己記録型のポイントアンドクリックインターフェイスにより、データ取得プロセスが高速化および簡素化されるため、ユーザーは結果の分析をより早く開始できます。追加機能により、さまざまな信頼性テストに適した応力測定機能が可能になるだけでなく、LCRメーターのサポートにより、高精度の測定と高分解能が実現します。


ケースレー 4200 システムの機能は次のとおりです。

●直感的でポイントアンドクリックのWindows®ベースの環境

●ユニークなリモートプリアンプは、SMUの解像度を0に拡張します。1 fA

●CV装置により、DC IVと同じくらい簡単にCV測定が可能

●パルスおよびパルスIV機能による高度な半導体テスト

●スコープカードは、統合されたスコープとパルス測定機能を提供します

●自己完結型PCにより、迅速なテストセットアップ、強力なデータ分析、グラフ化と印刷、およびテスト結果のオンボード大容量ストレージが提供されます。

独自のブラウザスタイルのProject Navigatorは、デバイスタイプごとにテストを整理し、複数のテストへのアクセスを許可し、テストのシーケンスとループ制御を提供

●5つのJEDEC準拠のサンプルテストを含む、ポイントアンドクリックの信頼性テストのための組み込みのストレス/測定、ループ、およびデータ分析

●さまざまなLCRメーター、ケースレースイッチマトリクス構成、およびケースレーシリーズ 3400 とAgilent 81110 の両方のパルス発生器の統合サポート

●主要な分析プローバ用のソフトウェアドライバが含まれています

●2 X 4 2 10-SMU-2枚の追加4 2 10-SMUハイパワーSMUカード

●4 X 4 200-SM​​U-4枚の4 200-SM​​U中電力SMUカード


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