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• 使用されたDCソースモジュールAgilent 41420 A

  Agilent / HP 41420 Aソース/モニターユニットモジュールは、Agilent / HP 4142 BモジュラーDCソース/モニターメインフレームで使用するように設計されています。

• 使用されたモジュラーDCソースメインフレームAgilent 4142 B

  Agilent / HP 4142 BモジュラーDCソース/モニターメインフレームは、柔軟なモジュラーアーキテクチャ、パルス測定機能、高速測定を特長としています

• 使用半導体パラメータアナライザアジャレント4145B

  アジレント/HP 4145Bの半導体パラメータの検光子は半導体デバイスおよび材料の完全なDCの特徴付けが可能である。

• 使用半導体パラメータアナライザアジャレント4155A

  アジレント/HP 4155A半導体パラメータアナライザは、高解像度の精度と広い範囲を提供しています。

• 中古半導体パラメータアナライザAgilent 4155 B

  Agilent HP 4155 Bセミコンダクターパラメーターアナライザーは、4つの組み込みソース/モニターユニット（SMU）、2つの電圧ソースユニット（VSU）、および2つの電圧モニターユニット（VMU）を提供します。

• 使用半導体パラメータアナライザアジャレント4155C

  Agilent/ HP 4155C半導体パラメータアナライザは、高度なデバイス特性評価のための費用対効果の高い、正確な実験室ベンチトップソリューションです。

• 中古半導体パラメータアナライザAgilent 4156 A

  4156 AはAgilentのセミコンダクターパラメーターアナライザーです。半導体パラメータアナライザは、幅広い測定機能に使用されるオールインワンツールです。

• 使用半導体パラメータアナライザアジャレント4156B

  アジレント4156B/HP 4156B精密半導体パラメータアナライザは、デバイス特性評価のための高精度ユニットです。

• 中古半導体パラメータアナライザAgilent 4156 C

  Keysight / Agilent 4156 Cプレシジョンセミコンダクターパラメーターアナライザーは、高度なデバイス特性評価のための非常に正確な実験室ベンチトップパラメーターアナライザーを提供します。

• 使用パルスジェネレータ拡張ユニットアジレント41501B

  アジレント/HP 41501B SMUおよび脈拍発生器拡張装置は4155A、4155B、4155C、4156A、4156Bおよび4156Cの測定機能を高めるために使用される。

• 中古のHPSMU Agilent B 1510 A

  Keysight B 1510 A（Agilent）などのSource / Measure Unit（SMU）は、Agilent / Keysight B 1500 A半導体デバイスパラメータアナライザの主要な測定モジュールです。

• 使用された波形発生器ユニットモジュールAgilent B 1530 A

  Keysight B 1530 A波形発生器/高速測定ユニットモジュール（WGFMU）は、超高速IV、パルスIV、過渡IV測定に最適です